纳米粒度分析仪：
N4Plus是采用激光法测超细颗粒的仪器，激光法测颗粒度，是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法，即利用运动着的颗粒所产生的动态 的散射光，通过光子相关光谱分析法PCS（Photon Correlation Spectroscopy）分析纳米颗粒粒度，其特点是快速、准确、分辨率高。

      纳米粒度分析仪

           纳米粒度分析仪技术参数

           1.测量范围： 3-3,000nm
           2.测量时间：30-180秒
           3.重现性： 优于3%CV
           4.可区别平均粒度比大于2.5的两个峰
           5.精度： 2－5%

          主要特点

         1.是采用六个角度（在0-900C角度范围）检测的仪器
         2.*的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图，快速判别样品类型

Zeta电位和分子量分析仪的技术参数

1、粒径测量
大粒径范围: 0.3 nm - 10 μm * 
浓度范围: 0.1ppm – 40% w/v * 
检测角度: 175o 和 12.8o 
小样品量: 12 μl 

2、Zeta电位测量 
Zeta电位范围: 无实际限制 
电泳迁移率: 0 – 无实际上限 
大样品电导率: 200mS/cm 
大样品浓度: 40% w/v 
小样品量: 150 μl 
粒径范围: 3.8nm - 100 μm *

3、分子量测量
分子量范围 342 - 2 ×10⁷ Da * （动态光散射） 
980 - 2 ×10⁷ Da * （静态光散射） 
小样品量  12 μl

* 取决于样品

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